关于举办“集成电路先进测试技术赋能智能制造创新发展”高级研修班的通知

作者:时间:2024-09-03点击数:

各有关单位:

按照《北京市人力资源和社会保障局关于加强2024年北京市高级研修班以及资助经费管理工作的通知》(京人社专技字〔2024〕67号)要求,为加强人工智能产业人才培养,定于2024年10月10日(周四)至10月12日(周六)在北方工业大学举办“集成电路先进测试技术赋能智能制造创新发展”高级研修班。现将有关事项通知如下:

一、研修目的

通过研修,提升集成电路测试行业高级从业人员对集成电路测试技术的认知与理解,掌握相关前沿技术和发展趋势,更新专业知识,搭建交流平台,探讨技术应用的重点和难点问题,为培养京津冀地区急需紧缺的集成电路测试人才贡献力量。

二、研修内容

(一)集成电路测试技术导论;

二)自动化测试设备(ATE)的框图与原理

(三)Chroma 3380P系统架构与规格介绍

1.Chroma 3380P测试程序架构

2.3380P编程注意事项

(四)测试向量与微指令介绍

(五)测试项范例

1.测试项范例1开短路与直流测试

2.测试项范例2 芯片功能测试

3.测试项范例3 基于ALPG的Memory测试技术

4.测试项范例4 基于MXAWI的mixed signal混讯测试技术

5.测试项范例5 基于DFT的SCAN测试技术

(六)教学实践课

1.测试项范例1开短路与直流测试(教学实践课)

2.测试项范例2 芯片功能测试(教学实践课)

3.测试项范例3 基于ALPG的Memory测试技术(教学实践课)

4.测试项范例4 基于MXAWI的mixed signal混讯测试技术(教学实践课)

5.测试项范例5 基于DFT的SCAN测试技术(教学实践课)

三、研修方式

按照高水平、小规模、重特色的要求,邀请国内集成电路测试技术领域知名专家授课,采取专题报告、现场教学、学术交流、分组讨论等方式组织研修。为确保高级研修班的实际效果,全部采取线下的方式进行培训

四、研修对象及报名方式

(一)研修对象

京津冀地区从事集成电路测试工作的高级专业技术人员,吸收一定数量的中青年专业技术骨干和管理人员,并向基层一线倾斜。同时,也包括全国高校集成电路、微电子、电子信息等相关专业的教师。计划招生50人左右

(二)报名方式

请各单位推荐参加研修人员,并于2024年10月8日(周二)前,将加盖公章的《高级研修班报名回执》(见附件1)的电子扫描件发送至邮箱:jcdlgcspx@163.com。

请研修人员用手机微信识别下图二维码,填写报名资料。

(三)报名确认

北方工业大学对报名人员相关材料进行筛选和审核后,发送确认参训信息,研修人员凭身份证报到参加研修。

五、研修时间和地点

(一)研修时间

2024年10月10日(星期四)至10月12日(星期六),10月10日上午8:30前报到,10月12日下午5:00结业、返程。

(二)研修地点

北方工业大学(北京石景山区晋元庄路5号博远楼,联系电010-88803118、13661094867)。

(三)乘车路线

地铁:乘地铁6号线到西黄村站,C出,向南直行200米,进入学校北门。

公交:乘公交318路、663路、961路,到北方工业大学站下车即到。

六、其他事项

(一)参加研修人员结合研修内容和工作实际,每人撰写1篇与研修内容相关的论文或交流材料,不少于3000字,于研修结束前将电子版提交至邮箱:jcdlgcspx@163.com

(二)研修人员修完规定课程,经考核合格后,由北京市人力资源和社会保障局颁发《北京市高级研修班结业证书》,培训学时记入专业技术人员继续教育学时。

(三)研修人员报到时,需要提交加盖公章的《高级研修班报名回执》。

(四)为保证研修效果,研修人员应严格遵守各项培训纪律,研修期间未经承办单位同意,不得请假。

(五)严格落实国家和北京市疫情防控要求,研修人员应主动做好个人防护。

(六)研修不收取任何培训费,研修人员往返交通费自理。

(七)联系人及联系方式

静:010-88803118、13661094867

电子邮件jcdlgcspx@163.com

附:高级研修班教学计划

          北方工业大学

         2024年9月3日



附件

高级研修班教学计划

时 间

研修内容

授课专家

学时

10

   月

10

   日

(周四)

上午

8:30前

学员报到

上午

8:30-9:00

开班仪式

北方工业大学领导

北京市人社局专技处领导

上午

9:00-9:45

集成电路测试导论

包括:集成电路制造工艺流程及产业链,集成电路测试的概念和目的,主要测试种类,测试实施流程及自动测试设备。

魏淑华,博士,北方工业大学副教授、硕士生导师。长期从事集成电路测试、集成电路工艺等方面的教学和科研工作。在集成电路测试基本理论、测试方法和集成电路测试设备等方面积累了丰富的经验。

1

上午

9:50-10:35

自动化测试设备(ATE)的框图与原理

包括:各个框图的用途与工作原理。










向正柱,Chroma半导体事业部技术服务中心资深经理。从事ATE行业20多年,曾参与3380P VLSI测试平台的多个项目开发,在项目管理和培训开发等方面具有丰富经验。





















向正柱,Chroma半导体事业部技术服务中心资深经理。从事ATE行业20多年,曾参与3380P VLSI测试平台的多个项目开发,在项目管理和培训开发等方面具有丰富经验。


1

上午

10:40-12:10

Chroma 3380P系统架构与规格介绍

包括:3380P系统组成,资源数目, 各类测试板卡介绍以及规格介绍。

2

下午

13:30-15:00

Chroma 3380P测试程序架构

包括:测试探针卡及测试载板设计,资源分配檔dec编成介绍,向量檔pat介绍,测试计划档pln的介绍。

2

下午

15:10-15:55

测试向量与微指令介绍

包括:向量文件语法,微指令用法介绍。

1

下午

16:00-16:45

测试项范例1开短路与直流测试

包括:介绍开短路测试原理,程序编成,指令讲解。

1

10

   月

11

   日

(周五)

上午

9:00-10:30

测试项范例2 芯片功能测试

包括:芯片功能测试要点说明,编程,指令讲解。

2

上午

10:35-12:05

测试项范例3 基于ALPG的Memory测试技术

包括:Memory基础知识与测试方法,ALPG架构说明,编成要点与指令讲解。

2

下午

13:30-15:00

测试项范例4 基于MXAWI的mixed signal混讯测试技术

包括:模数混合电路测试设备的系统资源及工作原理,ADC/DAC静态参数介绍,ADC/DAC静态参数测试方法,编成要点,指令讲解。

2

下午

15:10-15:55

测试项范例5 基于DFT的SCAN测试技术

包括:DFT之SCAN工作原理,测试设备ATE实现SCAN测试的机制, 编成要点,指令讲解。

1

下午

16:00-16:45

3380P编程注意事项

包括:硬件相关知识

案例研究。

1

10

   月

12

   日

(周六)

上午9:00-10:30

测试项范例1开短路与直流测试(教学实践课)

IC:74LS299

包括:上机实际操练。









杨希涛, Chroma半导体事业部测试工程部经理。从事ATE行业20多年,曾参与3380P VLSI测试平台的多个项目开发,在项目管理和培训开发等方面具有丰富经验。

2

上午

10:35-12:05

测试项范例2 芯片功能测试(教学实践课)

IC:74LS299

包括:上机实际操练。

2

下午

13:30-14:20

测试项范例3 基于ALPG的Memory测试技术(教学实践课)

IC: LP621024

包括:上机实际操练。

1

下午

14:30-16:00

测试项范例4 基于MXAWI的mixed signal混讯测试技术(教学实践课)

IC: AD5542及AD7760

包括:上机实际操练

2

下午

16:10-16:55

测试项范例5 基于DFT的SCAN测试技术(教学实践课)

IC:74LS299

包括:上机实际操练


1

下午

17:00-17:30

结业仪式



1



  • 附件【报名回执.doc】已下载

地址:北京市石景山区晋元庄路5号 邮编:100144
京公网安备 110402430042号